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FT-334型四探针电阻率测试仪

2020-11-26 21:02  点击量:

放置地点:表面改性室 电力大楼0628

生产厂家:宁波瑞柯伟业仪器有限公司

型号:FT-334



BD50



简单介绍:

四探针电阻率测试仪,按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,四探针电阻率测试仪

详情介绍:



四探针电阻率测试仪


本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;

四探针电阻率测试仪

选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

四探针电阻率测试仪

广泛用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

四探针电阻率测试仪

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等

四探针电阻率测试仪


规格型号

FT-331

FT-332

FT-333

FT-334

FT-335

FT-336

1.方块电阻范围

10-52×105Ω/□

10-42×103Ω/□

10-32×105Ω/□

10-32×103Ω/□

10-22×105Ω/□

10-22×103Ω/□

2.电阻率范围

10-6×106Ω-cm

10-5×104Ω-cm

10-42×106Ω-cm

10-42×104-cm

10-32×106Ω-cm

10-32×104-cm

3.测试电流范围

0.1μA 1μA10μA100µA1mA10mA100 mA

10μA100µA1mA10mA100 mA

0.1μA 1μA10μA100µA1mA10mA100 mA

10μA100µA1mA10mA

100 mA

0.1μA1μA10μA100µA1mA10mA100 mA

1μA10μA100µA1mA10mA100 mA

4.电流精度

±0.1%读数

±0.2%读数

±0.2%读数

±0.3%读数

±0.3%读数

±0.3%读数

5.电阻精度

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.显示读数

液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

7.测试方式

普通单电测量

8.工作电源

输入: AC 220V±10% ,50Hz   耗:<30W

9.整机不确定性误差

≤4%(标准样片结果)

10.选购功能

选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台

11.测试探头

探针间距选购:1mm2mm3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针


   



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说明书



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